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Fujitsu

Japan

Poynting for Microwave 解析事例
静電気放電の計算例 携帯電話モデル

携帯電話における静電気放電(ESD)対策を評価した解析事例です。
携帯電話の基板のグラウンドパターンにESD対策を適用する前後での、基板上の電流の分布、および、LSI配置部での電圧波形を比較します。

携帯電話モデル

閉状態

携帯電話モデル 閉状態

開状態

携帯電話モデル 開状態

開閉状態と静電気ノイズの関係

閉状態

開閉状態と静電気ノイズの関係 閉状態

開状態

開閉状態と静電気ノイズの関係 開状態
LSI配置部の電圧

ノイズの大きさ
開状態 < 閉状態

ノイズ電流低減の対策

グラウンド分離無

ノイズ電流低減の対策 グラウンド分離無

基板上に一様の電流が流れる

グラウンド分離有

ノイズ電流低減の対策 グラウンド分離有

分離により誘導路が形成され基板に流れる電流が減少

ノイズ電流低減の効果

ノイズ電流低減の効果

LSIピンに発生するノイズ電圧

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