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富士通研究开发中心研究员参加在美国华盛顿举行的CIKM学术会议

富士通研究开发中心有限公司

华盛顿, 2004-11-13

FRDC研究员孙俊于2004年11月8日到13日参加了在美国华盛顿举行的ACM 13th Conference on Information and Knowledge Management (CIKM)并在Hardcopy Document Processing workshop上发表了论文:“Low resolution character recognition by dual-eigenspace and synthetic degraded patterns”。

在华盛顿期间,孙俊研究员还访问了富士通美国研究所(Fujitsu Labs of America, College Park, MD)以及由David Doermann博士领导的位于马里兰大学(University of Maryland)的Language and Media Processing Laboratory(LAMP),并就OCR相关的研究进行了讲座和交流。


新闻ID: 2004-11-13
日期: 2004-11-13
城市: 华盛顿
公司: 富士通研究开发中心有限公司