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Fujitsu

Japan

HALT試験

概要

製品に限界以上の温度や振動といった強いストレスを与えることで意図的に破壊し、設計の弱点や欠陥を明らかにします。通常の試験と比較して短時間での評価を可能にする、比較的新しい試験手法です。

HALT試験

課題

  • 市場で発生するまで数年かかるような障害にも対応したい
  • 長時間に渡る評価作業による、装置の開発期間長期化を回避したい

富士通の取り組み

  • 富士通では携帯電話やノートパソコンからサーバや伝送機器といった大型装置まで幅広く製品を開発・製造しており、装置の信頼度を確認するため各種の試験を実施していますが、新しい評価手法についても積極的に取り入れてきました。
  • 従来の試験に加えてHALT試験を適用し、温度サイクル試験では確認まで長時間を要していた問題も短時間での再現を実現し、開発期間の短縮につなげました。

特長

  • 発生まで数年かかる市場での障害を短時間で再現し、対策効果を短期間で評価(試験開始から2~5日程度で結果を確認)
  • ローコスト部品を短期間で採用評価
  • コンパウンド塗布の条件出しや筐体材料の最適化にも適用可

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