GTM-MML4VXJ
Skip to main content

富士通クオリティ・ラボ

English

Japan

  1. ホーム >
  2. 製品・サービス >
  3. 電子機器の故障解析

電子機器/電子部品モジュールの故障解析

富士通株式会社での長年の故障解析の経験によって培われた技術とノウハウを元に、回路解析/波形解析/良品実力解析/各種限界試験による強制再現調査、回路シミュレータ調査などの手法を用いて、お客様がお困りのトラブル解決に向けて、強力にサポートいたします。また、当社は、独立行政法人製品評価技術基盤機構(NITE)の原因究明機関ネットワークへの登録機関です。製品事故の原因究明 に必要な専門知識や設備が無くお困りの際は、是非、当社までご相談ください。

お問い合わせはこちら
電子機器の故障原因特定と改善提案

お客様のお困り事に応じて、故障解析~再発防止策立案までの各段階で、トラブル解決へのお手伝いをさせていただきます。

Step.1

故障モジュールの特定

電子機器の故障が多く、内部のどのモジュールが故障しているのか特定したいが、解析工数が足らない。

電子機器内のどのモジュールが故障しているのか、各モジュールの専門家がお客様と協力して故障モジュールの特定を行います!
詳細はこちら


Step.2

故障部品の特定、異常回路の特定

電子機器内モジュール上のどの部品が故障しているのか特定したい。
製品の故障が多く、異常を起こしている回路を特定したいが、OEM品の為、詳細調査が難しい。

電子機器内のどの部品が故障を起こしているか、どの回路が異常を起こしているのか、回路図と故障現品を元に、回路波形解析を行い、故障部品の特定を行います!
詳細はこちら


Step.3

故障原因の特定

特定の半導体部品(ダイオード、FET、トランジスタ、IC等)や受動部品(コンデンサ、コイル、抵抗等)が故障しているが、故障原因が分からない。

電子機器の部品故障や回路誤動作が何故起こったのか、その原因を回路図の確認、良品解析、再現実験などから検証します!
詳細はこちら


故障の原因になった異常個所は、何故異常に至ったのか?材料の状態、異物の特定、表面/破断面の解析等、材料分析の観点から検証します!
詳細はこちら


Step.4

改善対策方法の検証、再発防止策の立案

OEM先が提示してきた改善策が妥当なのか判断したい。
同じような故障が他の機種でも発生しないか、事前に検証しておきたい。

故障原因を踏まえ、改善対策内容の妥当性を検証します!
同じような故障が他の機器や新規開発機器で起きないか、事前検証を行います!
詳細はこちら

GTM-W2C3MP