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富士通クオリティ・ラボ

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SEMを用いた受託分析

SEM(走査電子顕微鏡)とは

走査電子顕微鏡(SEM:Scanning Electron Microscope)は、細く絞った電子線を真空中で試料上に二次元的に走査し、試料表面から放出される二次電子等の強度を画像として得る装置です。

  • 表面の凹凸を観察できます。
  • 組成の違いを観察できます。
  • 微小部を拡大して観察できます。(数十~数万倍)

表面をシンプルに観察する手法だからこそ、不具合原因究明の糸口を見つける上で極めて有効な手法と言えます。

また当社では、SEMと他の分析手法を組み合わせた受託分析も行っております。

お問い合わせ・お見積りは無料です。お気軽に お問い合わせページ からご連絡ください。



SEM分析事例

  1. 表面形状観察(▼クリックで展開)
  2. 組成観察(▼クリックで展開)
  3. 高分解能観察(▼クリックで展開)

お問い合わせボタン 044-280-9948



当社では、お客様のご要望・分析目的に的確にお応えし、SEM写真を撮影するだけでなく、破面解析や測長などの受託分析サービスを提供しております。

お問い合わせ

富士通クオリティ・ラボ株式会社  

受付時間 : 平日9時~17時(土曜・日曜・祝日・当社指定の休業日を除く)

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icon-telephone 電話 : 044-280-9948

icon-mail E-mail : fql-evaluation@cs.jp.fujitsu.com

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