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富士通クオリティ・ラボ

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イオンクロマトグラフィを用いた受託分析

イオンクロマトグラフィ(Ion Chromatography : IC)とは

イオンクロマトグラフィは、液体に含まれている陰イオン・陽イオン・有機酸を測定する分析法です。

溶離液を、低交換容量のイオン交換樹脂を充填した分離カラムで分離して、サプレッサにより導電率を下げて、導電検出器により測定します。そのピークの溶出時間から何のイオンであるかの「定性」を行ないます。また、標準試料のピーク面積や高さを比較して「定量」を行います。迅速・高感度高精度(数10ppbレベル)を特徴としており、少量の試料で複数のイオンを定性・定量分析できます。
特に、微量無機陰イオン類やアルカリ金属・アルカリ土類金属・アンモニウムイオンに極めて有効な分離分析方法です。

河川水・雨水・純水などの水の分析、メッキ液組成の分析、電子材料関係の抽出液・半導体洗浄液のイオン分析、サーバーやPC等の設置環境判断などに用いられています。
当社では購入電子部品の汚損度(イオン残渣)調査も行っており、錆の防止に役立っています。

078-934-8207

お問い合わせ・お見積りは無料です。お気軽に お問い合せページ からご連絡ください。

 
分析事例

環境中の塩害成分調査

大気環境中の塵埃には、海から飛来する塩分や凍結防止剤に含まれる塩分が含まれます。塩分は、鉄・アルミなどの構造材を腐食・劣化させるだけでなく、電子機器や電機設備の内部で絶縁不良を引き起こし、トラブルの原因となります。

錆

基板の腐食

イオンクロマトグラフィを用いると、塵埃中に含まれるイオン成分の定性・定量分析が可能であり、環境中にどのような塩害成分がどのくらい含まれるかを明らかにできます。
塩害トラブルの原因究明や対策の立案に、非常に有効です!

光学系反射ミラーの表面曇り原因分析

光学系反射ミラーの表面曇り原因分析をした際、検出された無機陰イオンデータです。
高印加電圧下で発生する活性オゾンによる大気との反応で、硝酸イオンが生成し、ミスト状に付着することが原因と判明しました。

イオンクロマトグラム

定性・定量分析結果

No. 成分名 溶出時間(分) 濃度(ppm)
1 F(フッ素) 2.71 0.18
2 Cl(塩素) 3.51 0.39
3 NO3(硝酸) 5.54 4.90
4 SO4(硫酸) 9.44 0.58



シリコーン樹脂に残留する塩素イオンによる電極腐食

ハイブリッドIC・プリント回路基板などの電気絶縁・防湿・防水・防塵に、常温硬化型シリコーン樹脂コーテイング材が使用されています。
クロロシランが多量に残存するシリコーン樹脂があり、これを使用すると、残存するクロロシランが加水分解して生成した塩化水素が、写真のように、電子部品の電極を腐食する障害が発生します。

Corrosion in metallic electrode

電極金属の腐食の様子

下表は、障害を起こしたシリコーン樹脂に含まれるイオンをイオンクロマトグラフで分析した例です。(単位:ppm)

シリコーン樹脂 検出されたイオン
HCOO(蟻酸) Cl(塩素) NO2(亜硝酸) NO3(硝酸) SO4(硫酸)
不良品 0.05 0.13 0.04 0.06 0.02
改良品 0.04 0.01> 0.03 0.01> 0.01


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