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改善対策方法の検証/ 再発防止策の立案

故障原因を踏まえ、改善方法のご提案や対策内容の妥当性を検証します。
同じような故障が他の機器や新規開発機器で起きないか、再発防止の観点から事前検証を行います。

改善対策方法の検証/再発防止策の立案

事例1

  • 保護回路の動作・マージン評価
    保護回路の動作・マージン評価
    • 故障原因が保護回路の誤動作の場合、改善策として、保護回路が動作する開始点の変更や動作速度の変更、保護回路自体の削除など、様々な対応策が検討されます。
    • これらの変更によって、改善サンプル品の誤動作自体は抑えられますが、本当に全ての量産品に対して効果があるのか、保護回路の変更によって弊害はないのか、確認する必要があります。
    • 当社では、回路図を元に保護回路が動作する条件を回路や環境を工夫して作り出し、保護回路が動作するときの挙動を確認して保護回路変更による弊害検証を行います。 また、様々な限界評価を組み合わせることで、誤動作に対するマージン検証も行います。

事例2

  • 部品のディレーティング評価
    部品のディレーティング評価
    • 故障原因がダイオードやトランジスタ、FET、ICなどの半導体の使用方法の間違いにあった場合、改善策として、アブソーバやスナバ回路などの周辺回路の変更や電源回路の変更、使用部品の変更など、様々な対応策が検討されます。
    • 当社では、これらの変更によって、本当に改善効果があるのか、環境温度や周辺回路の部品バラツキも検討し、部品の絶対最大定格値を越える恐れがないか検証を行います。 
    • また、サーモグラフィーや熱電対による温度測定だけでなく、回路動作を踏まえた電解コンデンサのリップル電流測定も行い、寿命予測値を算出して電解コンデンサの短寿命要因を検証します。

当社にお任せください

  • STEP1

    故障モジュールの特定
    電子機器内のどのモジュールが故障しているのか、各モジュールの専門家がお客様と協力して故障モジュールの特定を行います!

  • STEP2

    故障個所/異常回路の特定
    電子機器内のどの部品が故障を起こしているか、どの回路が異常を起こしているのか、回路図と故障現品を元に、回路波形解析を行い、故障部品の特定を行います!

  • STEP3-1

    故障原因の推定
    電子機器の部品故障や回路誤動作が何故起こったのか、その原因を回路図の確認、良品解析、再現実験などから検証します!

  • STEP3-2

    故障箇所の材料分析
    故障の原因になった異常個所は、何故異常に至ったのか?材料の状態、異物の特定、表面/破断面の解析等、材料分析の観点から検証します!

  • STEP4

    改善対策方法の検証/再発防止策の立案
    故障原因を踏まえ、改善対策内容の妥当性を検証します! 同じような故障が他の機器や新規開発機器で起きないか、事前検証を行います!

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