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故障原因の推定

電子機器の部品故障や回路誤動作が何故起こったのか?
その原因を回路図の確認、良品解析、再現実験などから検証します。

故障原因の推定

事例1

  • ダイオード、トランジスタ、FET、ICの使用条件規格外
    ダイオード、トランジスタ、FET、ICの使用条件規格外
    • 電子機器内には、ダイオードやトランジスタ、FET、ICなど、様々な半導体が使われています。
    • 半導体部品には、各々、電圧/電流/温度に対して絶対最大定格値が規定されており、短い時間でも、この値を超えると半導体部品が破損してしまう危険があります。
    • 当社では、良品波形解析によって、破損箇所の部品に対する電圧/電流調査、サーモグラフィや熱電対による部品温度解析によって、回路設計的な部品破損要因を検証します。

事例2

  • 電解コンデンサの過大リップル電流印加による短寿命
    電解コンデンサの過大リップル電流印加による短寿命
    • 電子機器内に搭載されている電解コンデンサは、寿命部品であり、その寿命は、使われる環境温度と、電解コンデンサのリップル電流値に大きな影響を受けます。
    • 従って、電解コンデンサの周囲温度の測定結果だけを基に寿命予測を行ってしまうと、実際の寿命とは異なる結果となり、電子機器の設計寿命内に電解コンデンサの特性が急激に劣化し、部品破損に至る可能性があります。
    • 当社では、サーモグラフィーや熱電対による温度測定だけでなく、回路動作を踏まえた電解コンデンサのリップル電流測定も行い、寿命予測値を算出して電解コンデンサの短寿命要因を検証します。

事例3

  • 部品自体の不良
    • 部品の使用方法に異常が見つからない場合、部品自体の製造不良要因などが考えられます。
    • 当社では、富士通株式会社での長年の信頼性評価/故障解析の経験によって培われた技術とノウハウを元に、部品自体の故障メカニズム解明 などのご相談にも対応させていただきます。
    • また、部品の製造バラツキに起因する故障が想定される場合は、良品部品の特性バラツキ調査、バラツキ最悪品を実使用回路に搭載した場合の影響度調査などのご相談も承ります。

当社にお任せください

  • STEP1

    故障モジュールの特定
    電子機器内のどのモジュールが故障しているのか、各モジュールの専門家がお客様と協力して故障モジュールの特定を行います!

  • STEP2

    故障個所/異常回路の特定
    電子機器内のどの部品が故障を起こしているか、どの回路が異常を起こしているのか、回路図と故障現品を元に、回路波形解析を行い、故障部品の特定を行います!

  • STEP3-1

    故障原因の推定
    電子機器の部品故障や回路誤動作が何故起こったのか、その原因を回路図の確認、良品解析、再現実験などから検証します!

  • STEP3-2

    故障箇所の材料分析
    故障の原因になった異常個所は、何故異常に至ったのか?材料の状態、異物の特定、表面/破断面の解析等、材料分析の観点から検証します!

  • STEP4

    改善対策方法の検証/再発防止策の立案
    故障原因を踏まえ、改善対策内容の妥当性を検証します! 同じような故障が他の機器や新規開発機器で起きないか、事前検証を行います!

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