1. ホーム
  2. 製品・サービス
  3. 品質に関する実務代行
  4. 材料分析
  5. 分析方法別サービス

サイトリニューアルのお知らせ
  • Caution
    本サイトはリニューアルのため2022年3月に閉鎖致します。新しいサイトは　https://www.eurofins.co.jp/efql/になります。ブックマークいただいている方は変更をお願いいたします。

分析方法別サービス

各種分析方法の分類と分析サービスの内容、および使用する分析装置をご紹介します。
お問い合わせ・お見積りは無料です。お気軽に お問い合わせページ からご連絡ください。

分析方法別サービス
​

材料に関して何を調べたいですか？

  • 形状を調べる

    形状を調べる

    接点に異物は無いか？破断面はどうなっている？めっき膜の厚さは狙い通りか？

  • 成分を調べる

    成分を調べる

    以前のロットと現ロットで製品の組成に違いは無いか？　見つかった異物は不具合に繋がるような成分か？　不具合の原因はどんな成分で、どの部材由来だろう？

  • c

    含有物質を調べる

    調達品に規制対象物質は入っていないか？

  • 特性を調べる

    特性を調べる

    接着剤の特性はどんなものだろう？狙った通りの特性になっているだろうか？

  • 所有設備

    所有設備

    富士通クオリティ・ラボの所有する設備は？

形状を調べる

形態観察

断面観察

​

成分を調べる

  • 異物付着によって発生した剥離や製品の動作不具合。使用部品・部材の知らない間の材料変更（サイレントチェンジ）。
    成分分析は、不具合の原因調査、対策立案、障害の未然防止等、様々なケースで活用されます。

目的と測定方法


目的／装置組成分析変質・変色分析異物・付着物分析腐食物・酸化物分析ガス分析
定性分析、半定量・定量分析、IRスペクトル測定・解析、MSスペクトル測定・解析、微量不純物分析など分析箇所の写真撮影、定性分析、半定量・定量分析、結合状態分析、カラーマッピングなど分析箇所の写真撮影、定性分析、半定量・定量分析、結合状態分析、カラーマッピングなど分析箇所の写真撮影、定性分析、半定量・定量分析、結合状態分析、断面加工・観察、デプスプロファイル測定など試料調整（加熱、ガス捕集など）、MSスペクトル測定・解析、定性分析、半定量分析など
X線光電子分光（XPS）
○
○
○
○
―
フーリエ変換赤外分光（FT-IR）
○
○
○
―
―
ガスクロマトグラフ質量分析（GC-MS）
○
―
―
―
○
誘導結合プラズマ分析（ICP）
○
―
―
―
―
オージェ電子分光（AES）
○
○
○
○
―
走査電子顕微鏡（SEM）
―
―
○
○
―
集束イオンビーム加工観察装置（FIB-SIM）
―
―
○
○
―
​

含有物質を調べる

含有有害物質分析

  • 試料調整（加熱、溶媒抽出など）、MSスペクトル測定・解析、定性分析、定量分析など
    ガスクロマトグラフ質量分析（GC-MS）、蛍光X線分析（XRF）、誘導結合プラズマ分析（ICP）、イオンクロマトグラフィ（IC）

    活用事例

    RoHS分析　　 赤リン含有分析
​

特性を調べる

接着剤の特性はどんなものだろう？　狙った通りの特性になっているだろうか？

材料試験

  • 熱重量・示差熱分析、示差走査熱量分析、ビッカース硬さ測定、引張強さ測定、抗折強度測定など
    熱分析装置EXSTAR6000システム、デジタル粉塵計、水素イオン濃度計、ビッカース硬度計、引張試験機、電子天秤、導電率計など
​
ページの先頭へ