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富士通クオリティ・ラボ

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ニュース 2008年

ニュースの記載内容は、発表日現在のものです。その後変更が生じている場合がありますので、あらかじめご了承ください。

2008年

  • 2008年12月1日
    当社技術顧問亀原が、 The 9th VLSI Packaging Workshop in Japan に参加し、 強誘電体の評価、分析技術に関する発表を行うと共に、Thermal Design Sessionの議長を務めました。
  • 2008年9月3日
    2008分析展 で開催されたJAIMAコンファレンスにおける「分析現場ですぐに役立つ電子分光分析のノウハウと知識」の講座の中で、「試料前処理」の講義を行ないました。
  • 2008年8月29日
    表面分析研究会 の学会誌 Journal of Surface Analysis, Vol.15, No.1 に、当社で開発した技術「集束イオンビームを用いて作製した薄片試料による深い界面のオージェ電子分光法スパッタ深さ方向分析」が掲載されました。
  • 2008年7月11日
    当社顧問亀原( ナノビジネス推進協議会 環境分科会主査)が、昨年に引き続き、大阪大学の大学院生対象のナノテクキャリアアップ特論講座で「ナノテクの環境分野への応用とビジネス化」の講義を行ないました。
  • 2008年6月20日
    当社は、「 富士通フォーラム2008 」に出展し、 有害物質対応の分析や管理 および 代替材料の評価 に係わる新しい技術を紹介し、好評を頂きました。【ニュースの詳細 (132 KB/A4, 1 page)】
  • 2008年5月27日
    当社明石事業所では、有害物質分析において、(財)日本適合性認定協会より ISO/IEC17025の試験所認定 を受けました。【ニュースの詳細 (123 KB/A4, 1 page)】

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