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富士通クオリティ・ラボ

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富士通クオリティ・ラボ・環境センター株式会社 材料分析

材料分析

先端材料の高度な分析から、障害解析、材料の受入検査、製造現場での工程検査等、 開発、製造、品質管理のパートナーとしてご利用いただいています。

材料分析・試験

  • 光結晶材料、光学ガラス材料分析
  • 焼結フェライト、誘電体材料などの積層デバイス材料分析
  • 接着剤、有機樹脂バインダー分析
  • 精密はんだ材料分析
  • 電池材料、酸化物磁性材料分析
材料分析

業務委託分析

  • 障害原因解析、材料受入検査、工程検査等
  • 分析試験方法の開発

分析事例と分析装置

     
分析事例と分析装置
分析項目 使用分析装置 事例
元素分析 走査型電子顕微鏡
(SEM)
X線マイクロアナライザー
(WDX、EDX)
蛍光X線分析装置
(波長分散型)
ICP-AES
元素分析計
(C/S/N/O/H分析計)
原子吸光光度計
微小部位の拡大観察、元素分析及び元素分布図作成
  • 破断面の観察と起点の確認
  • 腐食等による障害解析
  • 異物付着内容確認分析
  • 微小部品の組成確認
  • メッキ断面状態の確認
  • 線分析法による元素分布勾配分析
  • カラーマッピングによる元素分布分析

定量分析
  • 原材料中の主成分、微量成分の分析
  • ステンレスの鋼種推定
  • 金属中の炭素定量分析
  • 希土類元素の定量
  • メッキ厚の確認
  • クリーンルーム内の飛散物の成分分析
化合物分析 GC-MS
ガスクロマト
高速液体クロマト
(GPC法)
イオンクロマト
赤外分光光度計
(FTIR)
分光光度計
ガスクロマトグラフ分析
  • 揮発性ガス物質の同定
  • 電子部品から発生する微量ガス分析
  • 油(石油、食用油)の分析

液体クロマト分析
  • 高分子の平均分子量測定等
  • 腐食性物質の分析

吸光度分析
  • 化合物の吸光度特性分析
  • 有機化合物の官能基分析
  • 顕微法による微小量の有機物推定
  • 不明樹脂の同定
結晶構造分析 X線回折装置
  • 無機化合物の結晶構造確認
  • 単結晶評価
結晶構造分析 熱分析装置
DSC
TG/DTA
TMA

粒度分布計
比表面積
細孔分布
熱特性の評価
  • 樹脂のガラス転移点分析
  • 化合物の分解温度確認
  • 線膨張係数測定
  • 金属化合物の融点確認
  • セラミックスの焼成条件確認

粉体の評価
  • 原料の粒度分布
  • 活性炭の比表面積
  • 研磨剤の粒度分布
各種材料の
物性評価
環境試験機及び上記分析装置の組み合わせによる信頼性試験
  • 電子部品の環境試験
  • 金属材料の腐蝕実験
  • 製品の振動試験等

お問い合わせ

富士通クオリティ・ラボ・環境センター株式会社  

受付時間 : 平日9時~17時(土曜・日曜・祝日・当社指定の休業日を除く)

このページに関するお問い合わせ

icon-telephone 電話 : 053-576-0841(代表) 

icon-fax FAX : 053-576-5258 

icon-mail E-mail : fql-environment@cs.jp.fujitsu.com