2013年国際電気標準会議（IEC）のIEC1906賞を受賞

2013年10月30日

IEC1906賞は、IECが行う電気・電子技術の標準化活動に大きく貢献した個人に対する表彰で、IECが設立された1906年を記念して2004年に設けられた賞です。2013年の日本人受賞者は、28名 （世界165名）となっています。

受賞者

磯野 秀樹 （マーケティング部 シニアエキスパート）

受賞理由

光能動部品ならびにデバイスの発展に対する多大な技術的貢献、特に、SC86C／WG4（注2）で長期にわたり議論されたウィグル試験法の標準化であるIEC 62150-3の最終化のプロジェクトリーダーとしての技術的および折衝的な貢献に対する功績。

関連ホームページ

http://www.fujitsu.com/jp/foc/

商標について

記載されている製品名などの固有名詞は、各社の商標または登録商標です。

注釈

（注1） IEC (International Electrotechnical Commission):
国際電気標準会議。電気・電子技術分野の規格を国際的に統一することにより、グローバルな経済発展と国際貿易の更なる促進を目的として活動。

（注2） SC86C／WG4：
光ファイバシステム・アクティブデバイス分野の国際規格制定委員会と光能動部品・デバイスに関する国際規格を策定する下部組織。