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Japan

機能・品質検証/解析

開発上流で、電子部品、機構部品(コネクタ、ケーブル 等)、プリント配線板の機能・品質面の本質を見極めます!

概要

電子機器の高機能化が進展する中で、機器を構成する電子部品、機能部品、プリント配線板は多様化しています。それら構成部材の機能・品質を多角的に検証/解析して、本質的なソリューションを提供し、機器の高機能実現に貢献します。

プリント配線板/材料メーカ検証サービス

海外の量産製造で、ある時期から品質問題が勃発、問題解決に時間がかかっていませんか。
寿命評価の時間を短縮してみませんか。
富士通アドバンストテクノロジは、富士通グループでの長年の経験により、お客様の製品開発と製品製造をサポートします。

サービス内容

  • 独自の評価基板による課題抽出
  • 独自のプロセス監査→弱み/強みの分析報告
  • 基板プロセス懸念点の抽出 → 改善施策の妥当性検証
  • 基板製造能力・プロセス管理・設備/材料の検証
  • 超加速評価(IST/HAST)による寿命及び不具合検証
  • 部品内蔵基板による小型化設計
  • 基板メーカ/材料メーカへの交渉サポート

IST試験と温度サイクルの試験イメージ

試験温度と基板伸び量(歪み量)の関係の解説図

試験温度と基板伸び量(歪み量)の関係の解説図

特長・効果

  • 長年の経験に基づく独自調査リストと評価基板により、基板材料、基板のリスクを分析
  • 社内データで積み重ねた加速式による超加速評価による不具合検証・寿命評価
  • 品質・供給量の安定化/妥当性検証による早期改善

実績

  • スパコン「京(注)」の配線板開発及び検証(伝送損失、Skew、信頼性)
  • 車載向信頼性評価2000サイクル相当のストレスを実働1日で実施
  • ODM品の製品基板の寿命評価(ISTクーポン使用)

(注)京: 理化学研究所の登録商標

高速・小型高密度化の為のコネクタ選定・利活用検証サービス

機器を小型にしたい、でも設計要件が多様。
高密度に実装する為の最適なボード構成とコネクタ技術は?
コネクタの品質や使いこなしに不安を感じていませんか?
富士通アドバンストテクノロジは、旬な部品技術と実装技術により、お客様の製品開発/検証をサポートします。

サービス内容

  • 適切なコネクタの選択、設計検証(部品、装置デザインとのすり合せ)
  • 機能、耐久性、実装性、信頼性の評価
  • 使用のリスク検証や使いこなし(筐体設計、組立工程)コンサル
  • 問題発生時の原因分析と対策立案

特長・効果

  • 部品技術と実装技術の最適解を提案し、製品アーキに基づいたコンパクトな実装、製品の小型化(3次元実装等)を実現
  • セットメーカ視点での部品/使用方法に係る品質問題の潰しこみ(周辺技術/制約すり合せ)

実績

  • 携帯からスパコンに至る機器の高密度化、安全な使用
  • 半世紀以上に渡るカスタム設計や部品評価(累計2万点)
    軽薄短小(携帯/PC)~高速・高密度(サーバ/通信)~高負荷(車載機器)

高速・小型高密度化の為のコネクタ選定・利活用検証サービスのサービス概要図

電子部品内部の実装性検証サービス

外購部品による品質変動に困っていませんか?
部品メーカの改善に不安・疑問を感じていませんか?
LSI実装技術に精通した専門のエンジニアが外購部品の品質問題をサポートします。

サービス内容

  • 実装プロセス懸念点の抽出や部品メーカ改善施策の妥当性を検証
  • 実装プロセス条件・製造能力・プロセス管理・設備/材料の妥当性を検証

電子部品内部の実装性検証サービスの参考イメージ

特長・効果

  • 外購部品のウィークポイント抽出、最適化に向けた施策の提案
  • アセンブリ メーカの4M変動の検出
  • 短期間で、部品不具合発生時の原因箇所解明と改善策を提案

実績

  • 携帯電話用デバイス、センサー部品、光通信モジュール、採用時の検証などの実績多数

電子部品の不具合解析のご支援

購入電子部品の不具合の原因を特定できず、お困りではありませんか? また問題の解決に悩んでいませんか?
富士通アドバンストテクノロジは、積み重ねた電子部品に関する専門知識をもって、お客様の問題解決に向けご支援いたします。

サービス内容

  • 不具合事例が蓄積された解析ノウハウDBを活用した原因の早期特定
  • 電子部品の不具合解析のご支援、及び問題解決のアドバイス

事例

  • 積層型インダクタ: X線CT(注1)(非破壊解析)により断線モードを特定
    参考イメージ: 積層型インダクタの断線不具合の事例
  • コネクタ: SEM(注2)による摺動磨耗腐食痕観察により不良メカニズムを特定
    参考イメージ: コネクタの接触不具合の事例

(注1)CT(Computed Tomography): コンピューター断層撮影
(注2)SEM(Scanning Electron Microscope): 走査型電子顕微鏡

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富士通アドバンストテクノロジ株式会社 ビジネスフロント室
電話(代表): 044-742-2100(受付時間: 平日 9時 ~ 17時)
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