FUJITSU PLM解决方案

电子部品故障解析服务

不只局限于故障解析，还可以提供再现调查·不良发生预测的支持

以从功率器件到各类电子部品的全体为对象，提供各类故障解析服务。
并不只局限于故障原因的确定，包括发生机理的调查·验证、改善提案·效果验证在内，都将由我司的专业资深工程师提供全方位的支持。

您是否因以下而困扰？

• 确定了故障部品，但不知道其发生原因
• 不仅是单纯的解析报告，还想知道可能原因或发生机理
• 想根据解析结果实施制造工序的改善
• 想委托再发防止的改善对策或品质咨询

我们将根据客户的需求，为您量身定做提供最适合的解析方案。
从故障解析到改善提案·效果验证，我们可以通过“一键式”服务来解决客户的课题。

服务流程

最适当的解析方法的提案

• 把握障害现象
• 确认使用环境
• 确定解析方法

根据现象活用各种解析设备

• 外观观察
• 电气特性的确认
• X线及超音波探伤的内部确认

从部品到材料层次的解析

• 放射显微镜确认
• SEM断面观察
• FIB加工SEM/SIM观察
• TEM分析

再现实验、改善提案

• 汇总解析结果
• 再现试验、改善的提案，效果验证

故障解析事例

非破坏解析

破坏解析