FUJITSU PLM解决方案
电子部品故障解析服务
不只局限于故障解析,还可以提供再现调查·不良发生预测的支持
以从功率器件到各类电子部品的全体为对象,提供各类故障解析服务。
并不只局限于故障原因的确定,包括发生机理的调查·验证、改善提案·效果验证在内,都将由我司的专业资深工程师提供全方位的支持。
您是否因以下而困扰?

- 确定了故障部品,但不知道其发生原因
- 不仅是单纯的解析报告,还想知道可能原因或发生机理
- 想根据解析结果实施制造工序的改善
- 想委托再发防止的改善对策或品质咨询


我们将根据客户的需求,为您量身定做提供最适合的解析方案。
从故障解析到改善提案·效果验证,我们可以通过“一键式”服务来解决客户的课题。
服务流程

最适当的解析方法的提案
- 把握障害现象
- 确认使用环境
- 确定解析方法
根据现象活用各种解析设备
- 外观观察
- 电气特性的确认
- X线及超音波探伤的内部确认
从部品到材料层次的解析
- 放射显微镜确认
- SEM断面观察
- FIB加工SEM/SIM观察
- TEM分析
再现实验、改善提案
- 汇总解析结果
- 再现试验、改善的提案,效果验证

故障解析事例
非破坏解析

破坏解析

主要解析设备 |
物理测定
·数字显微镜 ·激光显微镜 ·金属显微镜 ·实体显微镜 |
电气测定
·波形记录器 ·电阻抗分析器 ·半导体参数分析仪 ·网络分析仪 ·逻辑分析仪 ·脉冲发生器 ·函数发生器 |
非破坏性解析
·X线透视解析 ·3D-X线解析装置 ·红外线锁定发热解析装置 ·超音波探伤装置 ·红外线温度检测器 ·荧光X线分析 |
破坏解析
·放射显微镜 ·激光开孔机·综合测试机 ·干腐蚀装置 ·研磨机 |
精密·材料分析
·走查电子显微镜(SEM)·透过性电子显微镜(TEM)·离子线束加工观察装置(FIB-SIM) ·电子线微型分析仪(EPMA) ·走查电子显微镜-能量分散型X线分析(SEM-EDX) ·走查式俄歇电子分光装置(AES,SAM)·走查型X线电子分光装置(微型-XPS) |