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富士通クオリティ・ラボ

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電子機器の加速劣化試験サービス

ウェアラブル製品を筆頭に、電子機器の小型・軽量化にともない、ユーザが屋外などの製品提供者の想定と異なる環境で使用するケースが増えてきています。電子機器の軽薄短小化により配線の狭ピッチ化、ファインパターン化が加速し、さらには使用環境の過酷化に伴い、より一層、マイグレーションを代表とした絶縁劣化などのリスクが高まっています。

IoT・ウェアラブル端末機器

このような課題・お悩みを解決します。

  • 劣化・寿命診断が必要であることは認識しているが、何をしていいのか分からない
  • 品質・寿命を短時間で見極めたいが、劣化・寿命診断の経験やノウハウがない
  • 一般環境はもちろん、過酷な環境にも耐えうる製品・部品かを見極めたい
こんなお悩み・ご要望はありませんか?

加速劣化試験は、富士通クオリティ・ラボにお任せください

各種公的規格に準拠した試験はもちろん、長年、富士通グループで培ってきた試験・ノウハウをベースに、お客様のご要望に即した加速劣化試験を実施致します。

お問い合わせボタン 044-280-9948



当社サービスの特色

製品の使われ方やお悩み事項等のヒアリング内容から、お客様の製品に適した加速劣化試験を"具現化"して提案・実施致します。部品選定・評価検討段階から、お気軽にご相談ください。


限界試験

一般的な温湿度・電圧印加はもちろん、当社オリジナルの専用試験設備を使用することで絶縁劣化時でも印加電圧を一定に保つことができ、絶縁劣化後の最悪事象の確認(限界試験)が可能です。

絶縁劣化限界試験
(左:通常試験 右:当社試験)
絶縁劣化限界試験

限界試験後の焼損例
(コネクタモールド)
限界試験後の焼損例

ワンストップ評価

加速劣化試験の立案・実施の他、試験終了後、絶縁劣化箇所の特定から、劣化・断線個所の顕微鏡撮影、成分分析(EPMA等)のご要望まで"ワンストップ"で対応可能です。

EPMA(Electron Probe Micro Analyzer)分析
EPMA分析結果

成分分析結果
EPMA分析結果(マッピング)



主な試験内容

試験種別
主な対象製品
キーワード
試験内容
絶縁劣化試験
プリント基板/コネクタ等
赤燐、ウィスカ、イオンマイグレーション、エレクトロマイグレーション
・プレッシャクッカ試験(PCT)
・高加速度寿命試験(HAST)
寿命試験
電解コンデンサ
温度バイアス、リップル電流、ESR、Tanδ
・リップル電流重畳試験
リチウムイオン電池
サイクル劣化、短寿命、アレニウスの法則
・特殊サイクル試験
鉛蓄電池
電解液枯渇、サルフェーション
・オリジナル寿命試験
プリント基板
電圧バイアス、電流バイアス
・オリジナルストレス試験
機械的耐久性試験
電化製品、IoT製品
輸送振動、摩耗、打点、筆記、微加振
・輸送振動試験
耐候性試験
ウェアラブル端末、屋外機器、材料等
太陽光、紫外線、降雨、カーボンアーク、キセノン、硫化水素、酸化窒素、塩素
・[高]促進耐候性試験
・ガス腐食試験


主な所有設備
加速劣化試験設備
用途
主な対応規格、試験条件
気槽 熱衝撃試験槽
急激な温度変化による劣化性調査
・試験可能温度:高温+60~+200℃/低温-70~0℃
液槽 熱衝撃試験槽 急激な温度変化による劣化性調査(液体を用い、気槽式より高い熱ストレスを与え、短時間で試験結果を得ることが可能) ・試験可能温度:高温+70~+150℃/低温-65~0℃
 ※冷媒は、ガルデンを使用 
・試料移動時間(低温槽~高温槽):10秒以内
・試料かご寸法:W150×H150×D200mm
・試料最大重量:2.0kg
恒温槽
恒温恒湿槽
低温低湿槽
温度・湿度加速による劣化性調査(低温・低湿可) ・IEC/JIS C 60068-2-30
 温湿度サイクル(12+12 時間サイクル)試験方法
・IEC/JIS C 60068-2-79
 高温高湿(定常)試験方法
・MIL-STD-202-103
 Method 103, Humidity (Steady State)
プレッシャクッカ装置
高圧・高湿度による劣化性調査
・IEC-60068-2-66
 環境試験方法−電気・電子−高温高湿、
 定常(不飽和加圧水蒸気)
真空オーブン
(減圧試験機)
減圧環境下での密閉度調査
(大気圧以下の低圧環境をシミュレートした試験)
・温度制御範囲:+40~+200℃
・圧力制御範囲:5~933hPa(3~700Torr)
・試験エリアの内寸
 W600×H600×D600mm or
 W800×H800×D800mm
振動試験機
振動による劣化性調査
・JIS C 60068-2-6
 正弦波振動試験方法(試験記号:Fc)
・IEC 60068-2-6
 Environmental testing – Part 2:Tests –
 Test Fc: Vibration (sinusoidal)
微加振試験機
微振動(ハンマー型打撃)による劣化性調査
・衝撃加速度:約100G
・加振周期:0.5/1.0/1.5/2.0s
温湿度・振動複合環境試験装置
温度、湿度と振動の環境ストレスによる複合環境試験
・温度範囲:-40~+150℃
・湿度範囲:20~98%RH ※設定温度に制限あり
・振動周波数:10~2,500Hz
ガス腐食試験装置
腐食性ガス環境下での劣化性調査
・JIS C 60068-2-43
 環境試験方法-電気・電子-
 接点及び接続部の硫化水素試験方法
・JIS C 60068-2-60
 環境試験方法-電気・電子-混合ガス流腐食試験
促進耐候性試験機
(サンシャインウェザーメーター)
紫外線照射による劣化を促進させ、製品/材料の寿命を確認
・JIS D 0205
 自動車部品の耐候性試験方法
・JIS L 0891
 キセノンアーク灯光又は
 サンシャインカーボンアーク灯光を用いた
 促進耐候堅ろう度試験方法
・JIS C 8917
 結晶系太陽電池モジュールの環境試験方法及び
 耐久性試験方法
高促進耐候性試験機
(スーパーキセノンウェザーメーター)
高照度紫外線照射で製品/材料の劣化性調査
対応規格など詳細は、左記リンクをご参照ください。


お問い合わせ

富士通クオリティ・ラボ株式会社  

受付時間 : 平日9時~17時(土曜・日曜・祝日・当社指定の休業日を除く)

このページに関するお問い合わせ

icon-telephone 電話 : 044-280-9948

icon-mail E-mail : fql-evaluation@cs.jp.fujitsu.com

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