GTM-MML4VXJ
Skip to main content

富士通クオリティ・ラボ

English

Japan

  1. ホーム >
  2. 製品・サービス >
  3. 電子部品の故障解析

電子部品の故障解析

部品が壊れた!! その原因は? 故障原因の調査をお手伝いします。

こんなお悩み・ご要望はありませんか?

  • 故障している部品まで特定できたが、どのような調査をして良いのかわからない
  • 故障解析を行いたいが、十分な設備を保有していない
  • 故障解析結果の検証を行いたい

半導体、車載用パワーデバイス、回路部品、基板、コネクタ等の電子部品全般を対象に、このようなお客様のお悩みにお応えします。

お問い合わせボタン 044-280-9948

故障解析の流れ
調査プラン
・故障現象の把握や、使用状況の確認
・解析方法の立案
非破壊解析
・光学顕微鏡による外観確認
・電気特性の確認
・X線や超音波探傷による内部確認
破壊解析
・エミッション、OBRICH、EBIC等による確認
・SEM、STEM等による確認
・XPS、EPMA、AES等による分析
 ※薬品、研磨、FIB等による試料加工あり
結果まとめ
・解析結果のまとめ、改善のご提案
解析事例

非破壊解析

故障解析の手順として、故障発生状況の把握、外観観察と電気特性から推測した故障メカニズムをもとに、ロックイン赤外線発熱解析、3D-X線透視解析、超音波探査(SAT)等から最適な非破壊解析を選択し、異常箇所を絞込みます。

IV特性
IV特性確認

正常品と故障部品のIV特性を比較することで、特性異常を確認。特定端子のオープン傾向を検出。

TDRによる比較
TDR確認

ネットワークアナライザを使用し、正常品と故障部品のTDR比較で波形の差異を確認。
差異の位置(白丸部、横軸は時間)から、オープン箇所を推定。

TDR(Time Domain Reflectometry:時間領域反射)

IC部品のロックイン赤外線発熱解析
ロックイン赤外線発熱解析

ショート傾向が確認されたIC部品をロックイン赤外線解析装置を用いて解析。
IC部品のサブストレート基板に発熱部(赤丸部)を検出し、ショート箇所を特定。

ICチップの3D-X線透視解析
3D-X線透視解析

解析サンプルを回転させながらX線を照射することで、内部の3次元構造を観察。
一方向からの観察では検出しにくい接合部の剥離等も検出。

IC部品の超音波探傷
超音波探傷

X線で透過してしまう部品の内部観察等を超音波探傷装置を用いて解析。
IC部品のパッケージ内部剥離(黄色部)を検出。

破壊解析

パッケージ樹脂開封を行い、光学顕微鏡やエミッション顕微鏡での観察、機械的研磨での走査電子顕微鏡(SEM)観察等から原因を推定します。
更に、材料の状態、異物の特定、表面/破断面の解析等、材料分析の観点から、集束イオンビーム加工観察装置(FIB-SEM)による加工・観察、透過型電子顕微鏡(TEM)による観察等にて原因を推定します。

チップの光学顕微鏡観察
光学顕微鏡による観察

故障部品のパッケージ樹脂を酸により除去し、光学顕微鏡にてチップを観察。
チップ表面の剥離(変色部分)と推定。

ICの特性異常品のエミッション顕微鏡観察
エミッション顕微鏡による観察

特性異常品の端子付近に異常発光部(赤丸部)を検出。不具合箇所を特定。 

故障部品のサブストレート基板配線のSEM観察
パッケージ開封後のSEM観察

配線層にダメージを与えない為にレーザーオープナーによる樹脂除去を行った後、SEM観察を実施。
サブストレート基板配線の断線を確認。

故障部品の断面研磨加工のSEM観察
断面研磨加工後のSEM観察

故障箇所の断面研磨を行い、SEM観察を実施。
パッケージ樹脂とサブストレート基板間にクラックが確認され、機械的なストレス印加による配線の断線と推定。

パッケージ樹脂開封では、銅(Cu)ワイヤや銀(Ag)ワイヤのダメージを抑えたパッケージ開封が可能です。


お問い合わせボタン 044-280-9948

こちらの製品・サービスもご覧ください

材料分析サービス

透過型電子顕微鏡(TEM)によるナノレベルの形態・断面観察、電子線マイクロアナライザ(EPMA)を用いた異物や腐食物の分析等、更に踏み込んだ分析も可能です。

>>詳細はこちら

  • 形状を調べる・・・ 形態観察、断面観察
  • 成分を調べる・・・ 組成分析、異物・付着物分析、腐食物・酸化物分析、変質・変色分析、ガス分析
  • 含有物質を調べる・・・ 含有有害物質分析
  • 特性を調べる・・・ 材料試験
パンフレット



お問い合わせ

富士通クオリティ・ラボ株式会社  

受付時間 : 平日9時~17時(土曜・日曜・祝日・当社指定の休業日を除く)

このページに関するお問い合わせ

icon-telephone 電話 : 044-280-9948

icon-mail E-mail : fql-evaluation@cs.jp.fujitsu.com

GTM-W2C3MP