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富士通クオリティ・ラボ

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信頼性評価/環境試験

規格に準拠した試験から寿命限界試験まで ご要望に合わせた多種多様な試験に対応します

電子部品・電子機器について、こんなお悩み・ご要望はありませんか?

こんなお悩み・ご要望はありませんか?
  • 採用前に不良発生予測を行いたい
  • 信頼性評価を行いたいが、設備やノウハウがない
  • 改善施策に対する効果検証をしたい
  • どの公的規格で試験すればいいのか判らない

お客さまの課題・お困りごとを是非当社にご相談ください

富士通株式会社での長年の信頼性評価・ 故障解析の経験によって培われた技術とノウハウを元に、お客さまの課題解決をサポートいたします。

お問い合わせボタン 044-280-9948

サービス内容 

温湿度試験
耐環境性試験
機械的試験
信頼性評価
試験料金

試験単価、および見積り例を公開しております。 >>試験料金例はこちら

所有設備

各種環境試験槽以外にも、多数の検査・測定装置を所有しております。 >>所有設備一覧はこちら

オリジナル試験設備

当社が開発したオリジナルの試験設備を活用し、さらに一歩踏み込んだ試験も可能です。
 >>オリジナル試験設備はこちら

特長

豊富なノウハウ

80年に渡るものづくりの中で蓄積してきた品質に関わるノウハウを活かし、公的規格での試験だけではなく、お客さまに最適な試験条件の立案から改善策のアドバイスまで幅広くサポートいたします。


多種多様な設備を所有

熱衝撃試験機やガス腐食試験機をはじめ、100台以上の試験機や試験槽を所有しております。 試料への電圧印加、連続監視などお客さまがご要望する試験条件に柔軟に対応いたします。

>>所有設備一覧はこちら

公的規格にも対応

JIS(日本工業規格)、EIAJ(日本電子機械工業会規格)、JEITA(電子情報技術産業協会)、JEDEC(半導体技術協会)、IEC(国際電気標準会議)、MIL(米軍規格)などに対応いたします。試験項目、条件等をご連絡ください。 また、ISO26262 で要求されている 「電子システムのハードウェアを構成する半導体/電子部品の目標故障率」 を満たす試験のご支援も可能です。

>> 主な対応規格例はこちら

不具合検出事例

信頼性評価/環境試験 での不具合検出事例をご紹介します。 

ICの気槽熱衝撃試験

半田クラック(断面観察画像) 

半田クラック(断面観察画像)  

タッチパネルの促進耐候試験(サンシャインウェザー)

パネル表面の気泡(顕微鏡観察画像) 

パネル表面の気泡(顕微鏡観察画像)  

プリント基板のマイグレーション試験

マイグレーションによるパターン間ショート(左図:平面研磨画像、右図:断面画像)

マイグレーションによるパターン間ショート(左図:平面研磨画像、右図:断面画像)   


 

お問い合わせ

富士通クオリティ・ラボ株式会社  

受付時間 : 平日9時~17時(土曜・日曜・祝日・当社指定の休業日を除く)

このページに関するお問い合わせ

icon-telephone 電話 : 044-280-9948

icon-mail E-mail : fql-evaluation@cs.jp.fujitsu.com