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第48回 信頼性・保全性シンポジウム ご来場のお礼

ご来場いただいたお客様に厚く御礼申しあげます。

名称 第48回 信頼性・保全性シンポジウム
主催 一般社団法人日本科学技術連盟
会期 2018年7月19日 木曜日 ~ 20日 金曜日
会場 日本教育会館(東京都千代田区)
入場 有料(Webサイトでの事前登録制)
来場者事前登録はこちら(公式サイト)Open a new window
公式サイト http://www.juse.or.jp/src/seminar/detail/page/48rmsOpen a new window
ブース 第2会議室(8階 805・806号室)

出展内容

【展示時間】
7月19日 木曜日 12:00~17:00
7月20日 金曜日 10:00~15:00


電子機器・電子部品の故障解析サービス

富士通グループで培った電気・電子分野の技術とノウハウを基に、お客様がお困りのトラブル解決に向けて、電子機器内の故障部品特定から部品自体の故障解析までワンストップでサポートいたします。

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講演内容

X線透視によるメモリ素子の特性悪化と回避策

【Session 2-4】 2018年7月19日 木曜日 17:40~18:10 A会場(8階 801・802号室)

勅使河原 寛

近年、携帯電話やタブレット端末をはじめとする小型、薄型電子機器が普及し、高密度実装の要求が恒常化する中、メモリ素子を含み複数の素子で構成されるLSIは多ピン化が容易なBGAパッケージで基板実装されるが、半田未着や位置ずれ等の実装品質を損なう可能性がある。
その為、実装状態をX線透視装置で検査を行っているが、X線検査後の基板からメモリエラーが発生し、解析の結果、DRAMのデータ保持特性が悪化している事が判明。
今回、DRAM不良が発生した事により、メモリ関連素子のX線照射量と特性悪化の因果関係を確認すると共に、X線検査における特性悪化の回避策を検討した。

お問い合わせ

富士通クオリティ・ラボ株式会社  

受付時間 : 平日9時~17時(土曜・日曜・祝日・当社指定の休業日を除く)

このページに関するお問い合わせ

icon-telephone 電話:044-280-9949

icon-mail E-mail:fql-contact@cs.jp.fujitsu.com

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