标准单元：CS91系列
初始规格
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 最优化门数量 |
最多48,000,000门 |
| 技术 |
0.11μm Si-门 互补性金属氧化半导体(CMOS), ５-８层金属布线，低-K(k＜＝2.6) 能够在单片中集成高速处理器和电路 |
| 支持三种类型电路 （高速、高密度、低漏电） | |
| 供应电压 |
＋1.2V (标准)到 +0.9V±0.1V |
| 结点温度范围 |
-40至125摄氏度（标准） |
| 门延迟时间 |
tpd=16ps(1.2V, 变极器，F/O=1) |
| 门电源功耗 |
pd=6.6nW/MHz (1.2V, 变极器，F/O=1) |
| 高速（622Mbps,2.5 Gbps, 3.2Gbps,10Gbps）支持传输界面/宏 | |
| 特殊接口 |
包括P-CML ,LVDS,PCI,AGP,USB,SDRAM-I/F,SSTL-2,GTL,TLVTTL |
| 晶体振荡器专属缓冲电路 （开发中） | |
| IP 宏 |
包括CPU (ARM7TDMI), DSP, PCI ,IEEE1349,USB, IrDA,PLL,ADC,DAC |
| 正在贴装编译单元（如RAM/ROM/倍增器） | |
| 加强硬件/软件共同设计环境 | |
| 使用时序驱动的布线工具作短期开发 | |
| 支持大型电路的层次设计环境 | |
| 支持信号完整性减弱和EMI | |
| 支持RC延迟运算环境 | |
| 支持优化电源供应路由工具 | |
| 支持静态定时退出系统 | |
| 支持记忆（RAM）内置式自测（BIST） | |
| 支持界限扫描 | |
| 支持通路延迟测试 | |
| 支持LOGIC 内置式自测（BIST） | |
| 不同组件包阵容 |
包括FC-BGA（最大2116pin）, EBGA |
注释：上述包括尚在开发中的产品，欲了解最新产品情况，请联系当地富士通代表处。
